Gwyddion – Free SPM (AFM, SNOM/NSOM, STM, MFM, …) data analysis software

Seminář o metodách blízkého pole

Odborný seminář zaměřený na rastrovací sondovou mikroskopii proběhne ve dnech 23-24. března 2009 v hotelu Hubertus ve Valticích (http://hotelhubertus.cz). Cílem akce je umožnit setkání odborníků zaměřujících se na SPM techniky (především z České a Slovenské republiky) a výměnu nových poznatků.

Program

Seminář bude zaměřený na rastrovací mikroskopii, mikroskopii atomárních sil a příbuzné techniky (STM, STS, AFM, NSOM, SCM, SThM, MFM, nanoindentaci a další). Hlavní témata semináře jsou

Součástí programu bude výstavka věnovaná novinkám v oboru, případně i fyzická prezentace některých přístrojů.

Program semináře

Pondělí 23. března
12.00-12.50Oběd
12.50-13.00P. Klapetek, D. Novotný: Úvodní slovo, představení sponzorů
13.00-13.40D. Novotný, MTM: Představení firmy Měřicí technika Morava
13.40-14.20Š. Lányi, SAV: Lokálna analýza defektov v polovodičoch
14.20-14.40M. Munzar, RMI: Magnetic Force Microscopy s vysokým rozlišením - možnosti a limity využití.
14.40-15.00J. Vaniš, UFE AVČR: Srovnání InAs kvantových teček rostených MBE a MOCVD pomocí BEEM/BEES
15.00-15.20P. Klenovský, PřF MU: Analýza lokální luminiscence kvantových teček a dalších nanometrických objektů
Přestávka
15.50-16.30I. Ošťádal, MFF UK: 1D struktury kovů na povrchu křemíku
16.30-16.50M. Setvín, MFF UK: Studium Si(110)-16x2 pomocí STM a STS
16.50-17.10R. Kubínek, UP: Grafenové struktury zobrazené metodami AFM, TEM, SEM
17.10-17.30A. Campbellová, ČMI: Nejistoty při měření atomárních struktur – DFT simulace
18.30-22.00Společenský večer
 
Úterý 24. března
9.00-9.40Vilma Buršíková, PřF MU: Indentačně indukované poruchy v nano- a mikroměřítku
9.40-10.20Petr Klapetek, ČMI: Využití grafických karet pro výpočty obrazu NSOM
Přestávka
10.50-11.10D. Haško, ILC: Využitie atómovej silovej mikroskopie pri charakterizácii perspektívnych polovodičových materiálov a fotonických štruktúr.
11.10-11.30Bohuslav Rezek, FZÚ AVČR: Studium uspořádání a přenosu náboje na rozhraní polypyrrolu a diamantu pomocí AFM/KFM
11.30-11.50Aliaksei Vetushka, FZÚ AVČR: The influence of the tip induced local anodic oxidation on the results of conductive atomic force microscopy
11.50-12.10J. Lazar, ÚPT AVČR: Víceosé interferometrické odmeřování v mikroskopii s lokální sondou
12.10-12.30O. Číp, ÚPT AVČR: Prvky a metody pro odmeřování vzdáleností s nanometrovým rozlišením
12.30-12.50D. Novotný, MTM, Termální analýza v nanorozměrech
Oběd, konec semináře

Ubytování

Seminář se bude konat v hotelu Hubertus (mapa)

Ubytování je zamluveno v jedno- a dvoulůžkových pokojích. Cena noclehu včetně stravování je 1200 Kč a bude hrazena na místě. Součástí programu bude společenský večer s ochutnávkou vín.

Sponzoři

Hlavním sponzorem je firma Measurement Technics Moravia (zástupce firmy Veeco), dalším sponzorem je firma RMI (zástupce firmy NT-MDT)

Kontakt

Petr Klapetek, Český metrologický institut, Okružní 31, 638 00, Brno, pklapetek (zavinac) cmi.cz

1.11 (klapetek, 2007-04-04 16:46:28)
© David Nečas and Petr Klapetek

Home Download News Features Screenshots Documentation Communicate Participate Resources Applications Site Map

Valid XHTML 1.0 Valid CSS