Gwyddion – Free SPM (AFM, SNOM/NSOM, STM, MFM, …) data analysis software

Seminář o metodách blízkého pole

Odborný seminář zaměřený na rastrovací sondovou mikroskopii proběhne ve dnech 22.-23. března v hotelu Hubertus ve Valticích (http://hotelhubertus.cz). Cílem akce je umožnit setkání odborníků zaměřujících se na SPM techniky (především z České a Slovenské republiky) a výměnu nových poznatků.

Program (stav k 21. 3.)

Úterý 22. března
od 9.00registrace, ubytování
10.50-11.00P. Klapetek, D. Novotný: Úvodní slovo
11.00-11.40A. Fejfar, FZÚ AVČR: Mikroskopické studium křemíkových tenkých vrstev
11.40-12.00A. Campbellová, ČMI: Kalibrace tuhosti AFM ramének
12.00-12.20M. Munzar: bude upřesněno
oběd
13.10-13.50P. Sobotík, MFF UK: Studium růstu bimetalických nanostruktur na povrchu Si(100)-(2x1) pomoci UHV STM/STS
13.50-14.10P. Kocán, MFF UK: Mapování dopantů na povrchu Si pomocí STM
14.10-14.40Prezentace SPECS
14.40-15.00V. Buršíková, PřF MU: bude upřesněno
15.00-15.20D. Haško, ILC: Techniky rastrovacej sondovej mikroskopie pro elektrickú charakterizáciu materiálov a štruktúr
15.20-15.40Prezentace SPECION
přestávka
16.10-16.50P. Jelínek, FZÚ AVČR: Simultánní měření AFM a STM pomocí q-Plus senzoru
16.50-17.10M. Ondráček, FZÚ AVČR: Teorie atomárně rozlišeného STM a AFM na grafitu a uhlíkových nanotrubičkách
17.10-17.30M. Švec, FZÚ AVČR: Graphene moires on Platinum
17.30-18.00Prezentace Bruker
18.45-23.00společenský večer

Středa 23. března
8.00-9.00snídaně
9.00-9.20P. Klapetek, ČMI: Konstrukce AFM pro měření na extrémně velkých plochách.
9.20-9.40J. Lazar, ÚPT, AVČR: Interferometrie velkého rozlišení v nanometrologii
9.40-10.00O. Číp, ÚPT, AVČR: Charakterizace teplotní dilatace nízkoexpanzních materiálů užitých pro konstrukci sondových mikroskopů.
10.00-10.20I. Kunka, FS ČVUT: Charakterizace a optimalizace povrchu biomateriálů
10.20-10.50Prezentace RMI
přestávka
11.10-11.50T. Šikola, FSI VUT: SPM v nanotechnologiích
11.50-12.10D. Škoda, FSI VUT: Charakterizace 1-D nanostruktur
12.10-12.30J. Neumann FSI VUT: Optimalizace piezokeramických aktuátorů
12.30-12.50M. Bartošík FSI VUT: Lokální anodická oxidace
12.50-13.10J. Zelenka, Synpo: bude upřesněno
13.10-13.40Prezentace MT-M
oběd, konec semináře

Registrace, ubytování

Ubytování je zamluveno v jedno- a dvoulůžkových pokojích (ve výjimečných případech třílůžkových) dle Vašich požadavků při registraci (případně upřesněno v potvrzení o registraci na seminář). Předpokládaná cena noclehu včetně stravování je 1400 (jednolůžkový pokoj) resp. 1200 Kč (dvoulůžkový pokoj) a bude hrazena při registraci organizátorům.

Příspěvky

Přednášejícím bude k dispozici PC a dataprojektor. Předpokládaná délka příspěvků je 40 minut pro zvané přednášky a 20 minut pro ostatní původní sdělení.

Sponzoři

Hlavním sponzorem je firma Measurement Technics Moravia, dalšími sponzory jsou firmy RMI, Bruker, Specs a Specion

Kontakt

Petr Klapetek, Český metrologický institut, Okružní 31, 638 00, Brno, pklapetek (zavinac) cmi.cz

1.24 (klapetek, 2011-03-21 09:20:38)
© David Nečas and Petr Klapetek

Home Download News Features Screenshots Documentation Communicate Participate Resources Publications Applications Site Map

Valid XHTML 1.0 Valid CSS