Seminář o metodách blízkého pole

Odborný seminář zaměřený na rastrovací sondovou mikroskopii proběhne ve dnech 23-24 března v hotelu Hubertus ve Valticích (http://hotelhubertus.cz). Cílem akce je umožnit setkání odborníků zaměřujících se na SPM techniky (především z České a Slovenské republiky) a výměnu nových poznatků.

Program

Seminář bude zaměřený na rastrovací mikroskopii, mikroskopii atomárních sil a příbuzné techniky (STM, STS, AFM, NSOM, SCM, SThM, MFM, nanoindentaci a další). Hlavní témata semináře jsou

• techniky rastrovací mikroskopie a jejich rozvoj
• optická měření v blízkém poli
• metody zpracování SPM dat, metrologie v SPM
• aplikace SPM technik v biologii

Program bude tvořen zvanými přednáškami a původními sděleními účastníků. Program na této stránce bude průběžně doplňován.

K dispozici je dataprojektor a flipchart.

Příspěvky budou publikovány v časopise Jemná mechanika a optika (vydává FZU AVCR). Termín odevzdání příspěvků je 20. 4. 2007.

Registrace, ubytování

Zájemci o účast na semináři jsou žádání o registraci zasláním kontaktních údajů do 28 února 2009 na níže uvedenou adresu. V případě zájmu o aktivní účast prosíme o název příspěvku a krátký abstrakt.

Ubytování je zamluveno v jedno- a dvoulůžkových pokojích. Předpokládaná cena noclehu včetně stravování je cca 1200 Kč a bude dále upřesněna po jednání se sponzory a podle počtu účastníků.

Sponzoři

Hlavním sponzorem je firma Measurement Technics Moravia (zástupce firmy Veeco), dalšími sponzory (v jednání) RMI, a CSM-Instruments

Kontakt

Petr Klapetek, Český metrologický institut, Okružní 31, 638 00, Brno, pklapetek (zavinac) cmi.cz