Seminář o metodách blízkého pole

Odborný seminář zaměřený na rastrovací sondovou mikroskopii proběhne ve dnech 22.-23. března v hotelu Hubertus ve Valticích (https://hotelhubertus.cz/). Cílem akce je umožnit setkání odborníků zaměřujících se na SPM techniky (především z České a Slovenské republiky) a výměnu nových poznatků.

Program (stav k 21. 3.)

	Úterý 22. března
od 9.00	registrace, ubytování
10.50-11.00	P. Klapetek, D. Novotný: Úvodní slovo
11.00-11.40	A. Fejfar, FZÚ AVČR: Mikroskopické studium křemíkových tenkých vrstev
11.40-12.00	A. Campbellová, ČMI: Kalibrace tuhosti AFM ramének
12.00-12.20	M. Munzar: bude upřesněno
	oběd
13.10-13.50	P. Sobotík, MFF UK: Studium růstu bimetalických nanostruktur na povrchu Si(100)-(2x1) pomoci UHV STM/STS
13.50-14.10	P. Kocán, MFF UK: Mapování dopantů na povrchu Si pomocí STM
14.10-14.40	Prezentace SPECS
14.40-15.00	V. Buršíková, PřF MU: bude upřesněno
15.00-15.20	D. Haško, ILC: Techniky rastrovacej sondovej mikroskopie pro elektrickú charakterizáciu materiálov a štruktúr
15.20-15.40	Prezentace SPECION
	přestávka
16.10-16.50	P. Jelínek, FZÚ AVČR: Simultánní měření AFM a STM pomocí q-Plus senzoru
16.50-17.10	M. Ondráček, FZÚ AVČR: Teorie atomárně rozlišeného STM a AFM na grafitu a uhlíkových nanotrubičkách
17.10-17.30	M. Švec, FZÚ AVČR: Graphene moires on Platinum
17.30-18.00	Prezentace Bruker
18.45-23.00	společenský večer

	Středa 23. března
8.00-9.00	snídaně
9.00-9.20	P. Klapetek, ČMI: Konstrukce AFM pro měření na extrémně velkých plochách.
9.20-9.40	J. Lazar, ÚPT, AVČR: Interferometrie velkého rozlišení v nanometrologii
9.40-10.00	O. Číp, ÚPT, AVČR: Charakterizace teplotní dilatace nízkoexpanzních materiálů užitých pro konstrukci sondových mikroskopů.
10.00-10.20	I. Kunka, FS ČVUT: Charakterizace a optimalizace povrchu biomateriálů
10.20-10.50	Prezentace RMI
	přestávka
11.10-11.50	T. Šikola, FSI VUT: SPM v nanotechnologiích
11.50-12.10	D. Škoda, FSI VUT: Charakterizace 1-D nanostruktur
12.10-12.30	J. Neumann FSI VUT: Optimalizace piezokeramických aktuátorů
12.30-12.50	M. Bartošík FSI VUT: Lokální anodická oxidace
12.50-13.10	J. Zelenka, Synpo: bude upřesněno
13.10-13.40	Prezentace MT-M
	oběd, konec semináře

Registrace, ubytování

Ubytování je zamluveno v jedno- a dvoulůžkových pokojích (ve výjimečných případech třílůžkových) dle Vašich požadavků při registraci (případně upřesněno v potvrzení o registraci na seminář). Předpokládaná cena noclehu včetně stravování je 1400 (jednolůžkový pokoj) resp. 1200 Kč (dvoulůžkový pokoj) a bude hrazena při registraci organizátorům.

Příspěvky

Přednášejícím bude k dispozici PC a dataprojektor. Předpokládaná délka příspěvků je 40 minut pro zvané přednášky a 20 minut pro ostatní původní sdělení.

Sponzoři

Hlavním sponzorem je firma Measurement Technics Moravia, dalšími sponzory jsou firmy RMI, Bruker, Specs a Specion

Kontakt

Petr Klapetek, Český metrologický institut, Okružní 31, 638 00, Brno, pklapetek (zavinac) cmi.gov.cz